J-platpatの簡易検索で簡単に商標登録を検索🔍 -最初の検索窓を効率良く使い倒すには。商標登録 検索 vol.3
LoadingJ-platpatを利用した商標登録の検索🔍 J-platpatは、特許庁の外郭団体である(独)工業所有権情報・研修館が運営する特許、実用新案、意匠及び商標等の工業所有権の無料データベースです。このJ-pl …
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Loading米国商標データベースTESS 米国特許商標庁(USPTO)が提供する商標データベースTESS(Trademark Electronic Search System)は、米国の連邦商標登録のデータベースで、現 …
Loading米国 商標を検索 1.連邦登録(Federal Registration) アメリカ合衆国(米国)の連邦登録のデータベースは米国特許商標庁(USPTO)のTESS(Trademark Electronic …
Loading台湾の商標登録を商標検索系統で検索 台湾の智慧財產局(TIPO)の商標登録を検索する商標検索系統が2017年7月14日に新しくなりました。より使いやすいユーザインターフェースが導入され、商標毎のタイムライン …
Loading韓国商標 検索 1.韓国の商標登録 韓国の商標制度は、概ね日本の商標制度に近い構成になっており、また、韓国知的財産庁(KIPO)の外局となる韓国特許情報院(KIPI)で提供されている知的財産検索システム(K …
Loadingマドリッドモニター(Madrid Monitor)が正式運用開始 E-Madrid構築の始めの第一歩としてマドリッドモニターがWIPOの商標検索用ツールとして正式に運用されています。マドリッドモニターは現在 …
Loading世界知的所有権機関(WIPO)の商標検索ツール WIPO(世界知的所有権機関)は、特許ではPCTシステム(特許協力条約に基づく特許の国際出願制度)、商標ではMADRIDシステム(マドプロ)(マドリッド協定議 …
Loading中国 商標 検索 中国 商標 検索 いつの間にか自分の住む地名や自社の名称が勝手に登録されているというようなことがしばしば起こるのが、中国の商標登録です。中国では日本の約50倍の年間783.7万件(2019 …
Loadingウィーン分類 概要 ウィーン分類(Vienna Classification (VCL))は、ウィーン協定に基づいて定められた標章の図形要素を分類したものであり、1985年8月9日に施行されています。締約国 …
Loading商品区分・役務区分を検索する方法 A.日本の商品区分・役務区分を検索する。 1.特許庁での商品区分・役務区分の検索(JP) a. J-platpat 【提供】特許庁 (Japan Patent Office …